宁夏大学测试分析中心目前已完成 场发射电子探针显微镜（型号：EMPA 8050）的安装调试，各项指标符合要求。为帮助师生更好地了解和使用设备，中心将于2026年1月14日至16日上午9:00-17:30开展设备培训，欢迎广大师生积极参加。

一、设备介绍

场发射电子探针显微镜适用于多种材料，如陶瓷、玻璃、金属、复合材料等，可以研究材料的形貌、结晶形态、成分分析，样品微区的化学组成定性和定量分析、化学价态和痕量元素分析等。

二、设备重要技术指标及特点

1.电子光学系统

1.1 二次电子像分辨率：

≤3nm（加速电压 30kV）

≤20nm（10kV、@10nA）

≤50nm（10kV、@100nA）

≤150nm（10kV、@1000nA）

1.2 背散射电子像分辨率：≤20nm；

1.3 图像放大倍数：40 倍～400,000 倍；

2.波谱系统

2.1 分析元素：4Be～92U；

2.2 分析精度：≤1%(主元素, 含量＞5%)和 5%（次要元素,1%≤含量≤5%）；

3.光学显微镜系统

3.1 分辨率：≤1μm；

3.2 焦深：≥1μm。

三、样品要求

1.符合国家法律法规要求；

2.样品要求：样品表面光滑且样品需导电；

3.送样要求：

（1）金属、陶瓷、块体、粉末样品；

（2）最大样品尺寸：100 mm*100 mm*50mm;

（3）特殊样品（强磁样品等），请提前沟通。

联系人：李老师、杨老师

联系电话：0951-2061551

放置地点：宁夏大学贺兰山校区科技楼B103