7月2日，测试分析中心成功举办“从原位表征到高分辨质谱材料与化学分析前沿技术研讨会”，中心技术人员及相关学科师生90余人次参会。

中心特别邀请赛默飞科学仪器公司多名应用工程师结合实际应用案例，分享了原位光谱、X射线衍射、电子显微及色谱-质谱联用等技术在科研中的最新进展与实用技巧，帮助参会师生拓展科研思路、优化实验方法。