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宁夏大学测试分析中心技术交流会

发布日期:2024-06-04 浏览量:

随着行业技术的发展,扫描电子技术已突破传统的技术瓶颈,向着集成化、智能化、人性化的方向迈进。本报告将介绍扫描电镜的多种原位扩展技术与跨尺度联用方案,及其在材料科学领域的最新应用案例。

无损三维X射线显微技术可实现很多独特的应用,如内部断层成像、相位衬度成像、高分辨率原位拉伸/压缩/加热实验等。本报告将与大家分享X射线显微镜的最新技术以及在材料科学领域的最新应用成果。

宁夏大学测试分析中心特邀请蔡司应用技术专家高迪、杨彬做技术交流。

欢迎广大师生前来交流学习。


主讲人:高迪、杨彬(蔡司应用技术专家)

时间:2024年6月5日    下午2:30

地点:宁夏大学贺兰山校区 科技楼B301