X射线吸收精细结构(XAFS)是探究中心吸收原子局部环境的一种重要手段，结合非共振X射线发射谱(XES)方法可以得到材料全轨道电子结构的信息。本报告将从XAFS的原理概述出发，着重介绍XAFS与XES谱学技术在物质鉴别、材料表征、催化剂构-效关系探索等化工和新能源领域所关注科学问题上的应用报道案例。最后结合桌面式谱仪的技术发展简要分析近年来XAFS与XES的应用拓展方向。

宁夏大学测试分析中心特邀安徽创谱仪器科技有限公司应用工程师章磊杰做技术交流。

欢迎广大师生前来交流学习。

主讲人：章磊杰（应用工程师）

报告时间：2024年10月16日 15:00

报告地点：宁夏大学贺兰山校区科技楼B301