聚焦离子束-扫描电子显微镜（ FIB-SEM，Helios 5 CX ）可实现微区定点精准加工与高分辨形貌表征，是透射电镜超薄样品制备的核心设备，广泛应用于材料、能源等领域微观结构研究。中心特邀赛默飞资深工程师带来TEM样品制备专项实操培训，助力师生掌握仪器操作、优化制样方案，欢迎各位师生交流学习。

一、培训日程            

9月7日  9:00 - 11:30        SEM成像、图形加工与TEM制样

9月7日  14:00 - 17:30      标准样品制备流程与操作

9月8日  9:00 - 11:30        样品制备操作练习

9月8日  14:00 - 17:30      AutoTEM 5，Maps 3软件应用讲解与操作练习

二、培训地点：

宁夏大学贺兰山校区 德晖楼一楼现代表征中心