宁夏大学测试分析中心目前已完成高分辨率三维无损X射线显微镜（德国 卡尔蔡司 型号：Xradia 515 Versa）的安装调试工作，各项指标符合测试要求，于即日起开放运行。
一、设备介绍
高分辨率三维无损X射线显微镜利用X射线穿透样品，探测器收集不同吸收信号，实现X射线全场成像，可以对样品内部结构实现三维无损测试，并进行三维重构和二维切片表征，因此该设备主要用于三维无损表征样品内部结构，可广泛应用于材料科学、地球科学、生命科学及电子半导体等领域。例如：
1.材料科学领域：三维无损表征材料内部孔隙、裂纹、夹杂、析出相、增强相及其他不同密度物质相等，进而可通过分析软件获取特征结构（孔隙、裂纹、析出相等）三维模型并进行定量分析与统计分布等；
2.地球科学领域：三维无损表征样品内部孔隙、裂纹、包裹体、不同密度物质相分布及内部生物残骸形态结构等；
3.生命科学领域：三维无损表征动植物组织学结构。如木材的细胞形态、维管束结构及细胞壁厚度等，鼠肺内部气管分布及空间形态等；
4.电子半导体：三维无损进行电子半导体元器件失效分析及内部结构表征。
二、重要技术指标及特点
1.X射线源工作电压范围30KV-160kV，最大功率10W；
2.最高空间分辨率500nm；
3.最大可放置样品尺寸φ300mm×400mm（X射线可穿透条件下）。
三、样品要求
1.符合国家法律法规要求；
2.测试样品需要提前与设备管理人员进行沟通确认。
联系人：张老师 马老师
联系电话：0951-2061762
放置地点：宁夏大学贺兰山校区科技楼B109B
详细情况可登录宁夏大学大型仪器共享管理系统（http://222.23.220.194/lims/）查找各仪器设备负责老师联系方式
