宁夏大学测试分析中心目前已完成X射线吸收精细结构谱仪（型号：TableXAFS-3000）已开放运行，欢迎大家预约使用。

一、设备介绍

X射线吸收精细结构谱（X-ray absorption fine structure spectroscopy, XAFS）技术可以给出中心吸收原子的氧化态、配位构型、电子态以及周围配位原子的种类、距离、配位数、无序度等信息。相较其他材料表征手段，XAFS技术具有不依赖材料长程有序结构、具备原子尺度探测能力、方便搭载各类原位反应装置等优异特性。TableXAFS-3000谱仪突破了长久以来XAFS技术对于同步辐射光源的依赖，可足不出户地在实验室开展多种样品的XAFS/XES测试与实验。

二、重要技术指标及特点

2.能量覆盖范围：5~20keV（需更换不同的弯晶单色器）；

3.能量分辨率（ΔE/E）：2~5×10-4@8keV；

4.重复性：同一单色器测量条件下，连续测量同一样品的能量漂移＜50meV；

5.晶体单色器：Si、Ge晶体等16种；

6.目前可测试XAFS的元素：Ti、V、Cr、Mn、Fe、Co、Ni、Cu、Ga、Ge、Br、Y、Nb、La、Ce、Pr、Nd、Sm、Gd、Dy、Er、Yb、Lu、W、Ir、Au、Bi、U；

7.原位实验方案：

（1）高温高压气固反应原位池（加热温度500℃，气体压力1MPa）

（2）二次电池原位池（适用于锂离子电池正极材料的研究）

（3）单室三电极电催化原位池

（4）光催化气固反应原位池

三、样品要求

1.样品体系：粉末、碳纸、薄膜和液体等均可；

2.粉末样品送样前需提前研磨至400目以下，测试前需了解样品的ICP信息，粉末样品需求量取决于待测元素的质量含量，参考值为10 wt%以上需要100 mg、5-10 wt%需要300mg、5 wt%以下需要500mg。如样品量不够请携带ICP结果与测试老师讨论；

3.碳纸、薄膜类样品面积不小于1.0cm×1.5cm，在测试前请携带基底材料与膜层材料信息与测试老师讨论；

4.溶液类样品要求待测元素浓度高于1 mol/L；

5.常温下易挥发、易变质的样品暂不支持测试。

联系人：王老师

联系电话：0951-2061762

放置地点：宁夏大学贺兰山校区科技楼B104

详细情况可登录宁夏大学大型仪器共享管理系统（http://222.23.220.194/lims/）查找各仪器设备负责老师联系方式